作者：水野 文夫
定價：NT$ 778
市面難尋商品，已售完
計測の中で、半導体デバイスの研究・開発・製造に用いられる観測技術を「半導体計測」という。半導体計測技術の基礎から各手法の内容、またケースごとの半導体計測の原理やポイントについてまでを詳細に解説する。【「TRC MARC」の商品解説】
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二手徵求有驚喜
