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數字集成電路測試優化-測試壓縮.測試功耗優化.測試調度

出版日期:2010-06-01
出版社:科學出版社
本書內容涉及數位積體電路測試優化的三個主要方面:測試壓縮、測試功耗優化、測試調度。包括測試資料壓縮的基本原理,激勵壓縮的有效方法,測試響應壓縮方法和電路結構;測試功耗優化的基本原理,靜態測試功耗優化方 ...


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