本書主要討論了用於確定半導體量子阱和超晶格結構性質(結構、物理，化學、電氣等)的專門表徵技術。此外，介紹了採用第一原理進行的模擬、建模方法，以及異質結構的電學與光學特性。
本書結構基於雙重目標：以物理、化學，材料科學、工程學和納米技術領域的本科生與研究生能夠理解的程度，提供每一個被挑選的專門技術的基本概念；從最新的文獻中挑選採用這些專門技術得到的最佳結果作為例子，這些技術用來理解半導體異質結構的性質。這些章節綜合了基本概念的講解和最有關聯的創新例子的討論。此外，有關量子阱、量子線和量子點的內容可以看作是將先進表徵技術應用到亞納米尺度下材料的結構與電學性質的實例。
在學術界與工業實驗室內從事異質結構器件設計，生長，表徵與測試的研究人員，也可以用作更為廣泛的納米技術領域的參考書。

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